技术支持

您现在的位置:首页  >  技术文章  >  科普文,XRF快速检测仪的X射线产生机理简析

科普文,XRF快速检测仪的X射线产生机理简析

发布时间:2021-04-29浏览:10次
   XRF快速检测仪是利用初级X射线激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析的仪器。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。
  X射线荧光光谱分析本质上是表面分析。因此,要确保样品表面不受污染。XRF快速检测仪是表面分析仪器,分析深度通常1到几微米。
  特征X射线的产生机理
  1.同样当K空位被M层电子填充时,则产生Kβ辐射。M能级与K能级之差大于L能级与K能级之差,即一个Kβ光子的能量大于一个Kα光子的能量;但因L→K层跃迁的几率比M→K迁附几率大,故Kα辐射强度比Kβ辐射强度大五倍左右。
  2.显然,当L层电子填充K层后,原子由K激发状态变成L激发状态,此时更外层如M、N……层的电子将填充L层空位,产生L系辐射。因此,当原子受到K激发时,除产生K系辐射外,还将伴生L、M……等系的辐射。除K系辐射因波长短而不被窗口完全吸收外,其余各系均因波长长而被吸收。
  3.XRF快速检测仪Kα双线的产生与原子能级的精细结构相关。L层的8个电子的能量并不相同,而分别位于三个亚层上。Kα双线系电子分别由LⅢ和LⅡ两个亚层跃迁到K层时产生的辐射,而由LI亚层到K层因不符合选择定则(此时Δl=0),因此没有辐射。
苏州欧润智能科技有限公司 版权所有    备案号:苏ICP备19025623号-3

技术支持:化工仪器网    管理登陆    网站地图

联系电话:
0512-86899089

微信服务号